
products
产品分类
更新时间:2026-09-07
浏览次数:17DLT2B‑DeviceNet属于MKS DELTA™ II系列双通道流量比控制器,搭载DeviceNet工业总线接口,专为工艺气体分流分配场景打造。设备接收一路混合工艺气体输入,依据设定比例自动拆分输出至两个独立通道,无需多路气源供给,实现双区域、双腔体的气体流量配比管控,适配半导体工艺设备的自动化组网控制需求。
依托流量配比控制算法,内置数字闭环控制回路,实时采集输入总流量,按照预设比例动态调节两路输出流量。即便前端输入流量发生波动,依旧维持两路输出稳定配比,响应速度快,不受气体组分变化干扰,直接通过DeviceNet总线完成参数下发、状态回读与设备诊断,适配工控系统集成。
双通道比例管控,配比调节范围宽,支持1:1~20:1双向比例切换,比例控制精度高,保障腔室工艺一致性。
DeviceNet现场总线通讯,适配工业自动化控制系统,可远程完成比例设定、流量读取、状态监控,布线简洁,便于设备整机集成。
抗输入流量扰动,总进气流量变化时依旧保持输出配比稳定,响应时间小于2秒,缩短工艺周期,提升设备产能。
自带嵌入式在线诊断功能,通过网页即可查看设备运行状态,无需拆卸设备排查故障,降低维护停机成本。
紧凑型整机结构,金属流体通路,适配高纯工艺气体工况,可匹配多种满量程规格,氮气当量量程可选500‑10000sccm区间。
无需手动调节节流阀,全部配比参数软件远程设置,规避人工调试带来的工艺偏差。
通道数量:2通道
通讯接口:DeviceNet
比例控制范围:1:1至20:1双向
比例精度:设定点±2%(大于10%设定工况)
响应时间:<2s
控制区间:满量程5‑100%
最大出口压力:200Torr
介质:各类工艺混合气体,氮气当量标定
广泛用于半导体CVD薄膜沉积、刻蚀、剥离工艺,对工艺腔内部双分区、双腔体做气体流量分配;300mm晶圆制程、双腔设备气源分流,平板显示、部分精密真空镀膜设备,实现晶圆表面气体分布优化,改善薄膜均匀性与工艺重复性。
CONTACT
办公地址:深圳市龙华新区梅龙大道906号创业楼3楼TEL:0755-28578111
EMAIL:hy@tamasaki.com
扫码微信联系 0755-28578111

扫码加微信
返回顶部点
击
隐
藏