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更新时间：2026-06-15 
浏览次数：11薄膜厚度监测仪 FE-300F
这款紧凑且价格实惠的薄膜厚度计采用光学干涉法，操作简便，可实现高精度薄膜厚度测量。
它采用一体化设计，所有必要设备均集成在主机中，确保数据采集稳定。
尽管价格低廉，但它仍可通过获取绝对反射率来分析光学常数。
结构紧凑、成本低廉、易于使用的薄膜厚度测量装置。
可以通过选择光谱仪和光源来选择测量薄膜厚度范围。
设置测量条件和执行测量操作都很简单，任何人都能轻松完成测量。
它具备实时监控和模拟功能。
其测量光斑直径为 φ1.2 mm，支持从 3 nm 至 35 μm 的薄膜到厚膜的
广泛测量范围。
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