LUCEO鲁机欧 LSM-9100WNIR 近红外线畸变测试仪（StrainEye全自动近红外应变检测仪）

差异化版本文案，侧重和可见光机型的对比、有色样品与半导体检测优势

产品概述

LSM-9100WNIR是鲁机欧LSM-9100系列专属近红外版本全场相位差/畸变测量设备，跳出可见光偏振检测局限，采用近红外三波长线性偏振检测方案。针对可见光不透光的着色树脂、硅基半导体晶片开发，解决普通可见光应力仪无法穿透有色试样、无法采集内部应力的痛点，一次性完成全场二维畸变测绘，无需逐点扫描。

核心规格

检测方式：NIR三波长线性偏振法
工作波段：900～1200nm近红外LED光源
相位差测量区间：30～3000nm（评估参考最高可达5000nm）
有效测量视场：φ100mm
样品放置高度：最大160mm，可容纳厚型成型件
成像像素：1100×1100
重复精度：单波长σ＜1nm，三波长σ＜3nm
整机尺寸：W300×D353×H540mm
主机重量：22kg
供电：AC100-240V宽电压输入
配套软件：StrainEye，输出相位差、主轴方位、应力值，支持2D云图、截面曲线、3D可视化、CSV导出

产品亮点

近红外穿透特性，可见光下深色、着色树脂会吸光无法测量，该机型利用近红外穿透能力，直接检测有色注塑件内部残余应力与成型畸变。
内置LUCEO原厂POLAX系列近红外偏振光学组件，整套偏振光路一体化校准，光学系统稳定性高，长期测量漂移小。
一键全自动采集，仅放置样品点击测量即可，全程无需人工调节偏振角度，消除人为判读带来的主观偏差，适合产线质检批量检测。
全场成像，单次拍摄直接获取整个圆形视场的应力分布云图，可任意截取局部区域做统计分析，自动生成直方图、截面曲线。
适配硅片、半导体透明晶体材料，硅在近红外波段具备透光特性，可检测晶圆加工产生的应力畸变，是半导体来料检验的优选设备。
长寿命高亮度近红外LED光源，功耗低至35W，维护简单，减少光源更换成本。

工作原理

依托光弹性双折射效应，当材料内部存在残余应力时，材料会产生双折射现象。近红外光源发出的光，依次经过起偏器入射样品；光线穿过样品后分解成两束传播速度不同的偏振光，产生相位延迟。设备内置三组近红外波长采集多组偏振图像，相机采集不同偏振态下的光强信息，软件解析每一个像素点的相位差数值，换算得到应力大小与应力主轴方向，生成二维彩色畸变分布云图。

和可见光机型最大差异：采用NIR波段，不受样品颜色吸收干扰，对深色树脂、硅晶片这类可见光不透明样品有效。

使用要点

样品表面擦拭干净，油污、划痕会造成局部杂散光，干扰近红外偏振信号。
样品平稳放置，保证近红外光束垂直入射样品表面，倾斜会引入额外相位误差。
开机预热后执行基准零点校准，保证长时间连续测量精度稳定。
设备放置位置避开震动源，震动会造成内部偏振元件偏移，影响成像质量。