最新资讯 SANKO山高SWT-NEOⅡ/NEOⅢ双型薄膜厚度计

更新时间：2026-08-10

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发布时间

2026 年 8 月 10 日

我们谨通知您，我们已开始销售以下产品。

新产品

产品介绍

SWT‑NEOⅡ、SWT‑NEOⅢ 为 SANKO 山高 NEO 系列高性能双型涂层薄膜厚度计，京都玉崎经销，设备主机需选配 NEO 系列专用探头才可完成测量，支持电磁感应、涡流双测量模式，可适配铁基、非铁基材工件的油漆、电镀、阳极氧化、防腐内衬等绝缘涂层厚度检测株式会社サ...。两款机型均搭载超大容量存储器、多组校准曲线存储、完备统计运算功能，适合大批量产线巡检、来料检验、实验室质检场景，满足工业大批量检测的数据留存与分析需求。

存储与计算功能

大容量数据存储：SWT‑NEOⅡ 可存储 20000 点测量数据；SWT‑NEOⅢ 可达 40000 点，支持分组保存多批次工件检测记录，适配大批量现场检测作业株式会社サ...。
校准曲线存储调用：NEOⅡ 可保存 10 组校准曲线，NEOⅢ 可保存 100 组校准曲线，不同工件、不同涂层检测可直接调取对应曲线，无需反复校准，提升检测效率。
内置统计运算：自动计算最大值、最小值、平均值、标准差，快速获取整批工件涂层厚度分布状态。
公差判定功能：设置上下公差阈值，测量过程自动完成合格 / NG 判定，快速筛选不合格样品。
数据导出传输：支持 USB 接口将存储数据导出至电脑，用于制作质检报告；SWT‑NEOⅢ 额外搭载低功耗无线输出，支持无线数据传输京都玉崎。
本机回看数据：仪器端可直接调取历史存储记录查看，无需外接电脑即可复核检测数据。

产品特点

探头需单独选购，可搭配 SFe 铁基、SNFe 非铁基、SFN‑325 双用探头，按需切换测量对象，探头即插即用，主机自动识别探头类型京都玉崎。
图形 LCD 显示屏，屏幕自带操作指引，按键操作简单，车间现场上手便捷。
支持零点、标准片两点校准，保障不同工况下测量精度。
机身自带倾斜支架，手持、台面摆放两种使用方式，整机轻巧便携，长时间作业不易疲劳。
SWT‑NEOⅢ 相比 NEOⅡ，拥有更大存储容量、更多校准曲线组数，新增无线传输功能，适合多品类工件、超大量检测场景。
可选配 AC 适配器、专用打印机等配件，实现持续供电、测量报告打印输出。

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