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最新资讯 SM-Pen 电磁模拟薄膜厚度计 发布

更新时间:2026-06-11      浏览次数:3

发布时间

2026 年 6月 11 日

我们谨通知您,我们已开始销售以下产品。

新产品

SANKO山高  SM-Pen 电磁模拟薄膜厚度计

笔式探头可用于测量小型零件(可定制)。

特征

这种笔式探针的装有超细磁极,

可以测量微小零件和狭窄空间。

 是一款笔式探头、模拟指针显示的电磁感应式膜厚计,专为铁基微小零件、狭窄空间与细管内壁的绝缘 / 非磁性涂层无损检测设计,符合 ISO 2808 标准,便携且精度稳定。
核心特点

超细笔式探头:φ11×130mm 细长笔型,前端 CVD 超细磁极(φ2.6×4.5mm),可深入细管、弯头、缝隙,最小可测管径约 φ20mm,解决常规探头无法触及的检测难题。

  • 双量程精准测量:表盘双刻度,0–300μm(薄膜)、0–5mm(厚膜);均匀表面精度达 **±2μm 或指示值 ±5%**,兼顾薄膜与厚涂层检测。

  • 模拟指针直观可靠:模拟表盘读数稳定,无数字跳变,适合现场快速判定;机身小巧(105×48×165mm)、重约 500g,手持不累,电池 / 电源双供电,适配工地与实验室。

  • 铁基专用无损检测:适用于钢铁 / 铁素体不锈钢基材上的油漆、树脂、橡胶、搪瓷、锌 / 铜 / 锡镀层等非磁性层厚度测量,广泛用于汽车、船舶、钢结构、家电与管道内衬质检。


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