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更新时间：2026-08-10 
浏览次数：10统计运算：对连续多次测量结果自动计算最大值、最小值、平均值，直观展示样品厚度整体水平。
偏差计算：可对比设定标准厚度值，自动算出测量值与标准值之间的差值、偏差率，快速判断样品是否超差。
公差判定：设置上下公差阈值后，设备结合测量与计算结果，实现合格 / NG 判定，便于筛选不合格试样。
数据存储运算：存储多组测量数据，可调取历史数据做二次统计计算，支持批量试样数据汇总分析。
单位换算计算：支持不同厚度单位之间切换换算，简化不同规格样品的数据处理工作。
双型测量设计，一机适配多种薄膜薄片试样检测
内置丰富计算统计功能，减少人工计算，降低人为误差
测量精度高，数据输出稳定，满足工业品质管控要求
支持参数、配件可定制，适配特殊样品及产线使用场景
操作简单，人机交互友好，现场与实验室均可使用
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