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玉崎日本EMIC磁粉探伤高强度紫外线强度计

  • 产品型号:UV-D3
  • 更新时间:2023-11-20

简要描述:玉崎日本EMIC磁粉探伤高强度紫外线强度计

磁粉探伤
高强度紫外线强度计
可测量高亮度的型号

型号:UV-D3

产品详情

玉崎日本EMIC磁粉探伤高强度紫外线强度计玉崎日本EMIC磁粉探伤高强度紫外线强度计


EMIC电子磁气工业自 1957 年成立以来,开发和制造了广泛的磁性应用领域的产品,例如磁粉探伤和涡流探伤的无损检测设备、充磁/退磁设备以及磁性测量设备,作为一个磁专家小组。我去了那里。

我们重视的是倾听客户隐藏的声音,通过时代的制造为世界做出贡献。此外,我们不仅是一家提供产品的公司,也是一家为未来的安全和安保提供保障的磁性咨询公司。

作为一家以发展为导向的公司,我们将不断以技术开拓未来。我们将满足您的要求。


业务内容无损检测设备、充退磁设备、磁性测量设备、其他磁性应用产品及相关耗材的设计、制造和销售






磁粉探伤

高强度紫外线强度计

可测量高亮度的型号

型号:UV-D3

概述

用于控制紫外线强度。

用于控制黑光的紫外线强度。

波长为355-375纳米(nm)

具有峰值保持功能。

易于阅读的数字显示。

规格

模型UV-D3
输入功率2 节 AAA 电池
测量范围0至45mW/㎠
测量精度6mW/cm2以下:6mW/cm2的±5%
体重约250克



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