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ASAHI SOKKI朝日测器切割样品缺陷评估装置

  • 产品型号:ALTIS-RP
  • 更新时间:2023-11-24

简要描述:ASAHI SOKKI朝日测器切割样品缺陷评估装置

使用分辨率为 15 μm 的缺陷图可以轻松校准和验证切割样品的表面缺陷的评估和检查。

产品详情

ASAHI SOKKI朝日测器切割样品缺陷评估装置ASAHI SOKKI朝日测器切割样品缺陷评估装置


使用分辨率为 15 μm 的缺陷图可以轻松校准和验证切割样品的表面缺陷的评估和检查。



应用/特点

它可以作为离线表面缺陷校准的专家设备,这对于质量评估至关重要。

设备配置

该设备是必须由用户安装和连接的设备。
只需将检测设备和 PC 放置在水平支架上,并
用两根电缆连接检测设备和 PC 即可完成安装。



排队

根据泛光灯的结构,ALTIS 分为三种类型。
请根据检查对象和检查缺陷进行选择,并在购买时注明。
*ALTIS-P 可以作为选项定制为鱼眼检查模型。




各种屏幕


检查屏

扫描切割样品并检测缺陷。测试结果可以在下面的四个屏幕上确认。

检查结果画面(检测图显示)

检查结果画面(原始图像显示)

检查结果画面(缺陷列表显示)

检查结果画面(检测图像列表显示)

信息管理画面(结果数据列表)

您可以使用与测试时相同的屏幕配置来检查过去测试的数据。
您可以从过去的测试结果中选择任何数据,并将其以 CSV 格式保存到 USB 存储器。

信息管理画面(检测图显示/原始图像显示/缺陷列表显示/检测图像列表显示)

您可以在与测试时相同的四个屏幕上检查过去的测试结果。

浓度测量画面

可以调出缺陷图像的浓度测量屏幕。
在密度测量屏幕上,您可以分析缺陷的灰度等级和尺寸。

检查条件设定画面

最多可注册100个品种。
可以为每种产品类型注册检测灵敏度和尺寸等各种设置。开始检查时,只需选择注册的产品类型,就会设置适当的检查条件。

波形监视器

*启动设备时,每个屏幕上显示的语言可以从日语、韩语和英语中选择。

可以使用波形监视器功能来调整检测器(摄像机/发射器)。

规格

解决宽度方向10μm×长度方向10μm
相机C-MOS线传感器相机(单色)16384像素/680MHz
泛光灯LED线照明(从下面选择)
・ALTIS-RP(反射/透射)
・ALTIS-R(反射)
・ALTIS-P(透射)
样本量尺寸:210mm x 297mm(A4尺寸)
厚度:0.05mm ~ 最大1.0mm
检测判断明/暗渐变、宽度/长度/面积
移动速度工作台移动速度 6 m/min。
检验时间约15秒(每张)
检验范围

拍摄范围:160 mm x 230 mm
测量范围:150 mm x 220 mm
图像文件存储容量:400 MB
图像文件存储数量:最多 2000 张图像 

*请联系我们了解检查尺寸(定制设计)

电源AC100~220V 50/60Hz
个人电脑

CPU:Intel Core i7 3.4GHz
内存:16GB
扩展总线:PCI / PCI Express
硬盘容量:1TB
操作系统:Winows

方面





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